Akustische Messungen in der echofreien Kammer

Echofreie Kammer

Die akustische Kammer ist so ausgelegt, um den Pegel des akustischen Hintergrunds und der von den Wänden reflektierten Wellen zu minimieren und den von draußen kommenden Lärm zu reduzieren. Die Geräusche von draußen werden dank dem großen Schallschutz der Wände und den eingesetzten Materialien stark gedämpft. Die inneren Flächen sind mit einem Material verkleidet, das die eintretenden Geräusche absorbiert. In der Kammer wurden „porfles” Platten verlegt. In der Kammer gibt es auch die Beleuchtung und den Stromanschluss sowie einen Tisch, auf den man die Messgeräte stellen kann.

Spezifikation der Kammer

  • Innere Abmessungen: 3,8 x 6,8 wys. 2,5 m
  • Nutzvolumen: 73 m3
  • Pegel des akustischen Hintergrunds in der Kammer: 20 dB (A)

Normen

  • Bestimmung der Schallleistungs- und Schallenergiepegel aus Schalldruckmessungen – Hüllflächenverfahren über einer reflektierenden Ebene (PN-EN ISO 3746).
  • Bestimmung der Schallleistungs- und Schallenergiepegel von Geräuschquellen aus Schalldruckmessungen – Hüllflächenverfahren für ein im Wesentlichen freies Schallfeld einer reflektierenden Ebene (PN-EN ISO 3744).
  • Andere Normen (Normen der Hersteller).

Analysen

  • Frequenzanalyse (FFT, CPB, FRF und andere)
  • Zeitanalyse (Time Domain)
  • Korrelationsanalyse (Order)
  • Overall
  • Diagramme mit der Zeit-, Drehzahl-, Frequenzfunktion usw.

Messanlagen

  • Zur Verfügung haben wir DAQ Geräte solcher Firmen, wie Brüel&Kjaer, OROS.

Umformer

  • polarisierte (200V) Mikrophone der Klasse 1 (Bruel&Kjaer und G.R.A.S.)
  • Mikrophone ICP der Klasse 1 (PCB)

Messanlagen

Dokument-Nr. Titel/Beschreibung
PN-EN ISO 3746:2011 Akustik – Bestimmung der Schallleistungs- und Schallenergiepegel aus Schalldruckmessungen – Hüllflächenverfahren über einer reflektierenden Ebene
PN-EN ISO 3744 Akustik- Bestimmung der Schallleistungs- und Schallenergiepegel von Geräuschquellen aus Schalldruckmessungen – Hüllflächenverfahren für ein im Wesentlichen freies Schallfeld einer reflektierenden Ebene